具有局部加热的测试系统及其制造方法

作者: D.L.迪安,R.W.埃利斯,S.哈罗 CNPIM 2015年12月16日

发明人：D.L.迪安,R.W.埃利斯,S.哈罗

专利权人：智能存储系统股份有限公司

公开日：2015-12-16

公开号：CN105164544A

专利类别：发明公开

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摘要：一种测试系统(100),及其制造方法,包括：包括散热器(206)的热管理头部(402)；与散热器(206)直接接触的电子器件(210)；以及用于在散热器(206)和电子器件(210)之间传递能量的电流。

一种测试系统的制造的方法,包括∶提供包括散热器的热管理头部；将所述散热器放置成与电子器件直接接触；以及通过改变电流在所述散热器和所述电子器件之间传递能量。

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